電磁式膜厚計和渦流式膜厚計的測量原理及特點

更新時間：2024-02-18

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膜厚計是測量通過噴漆、電鍍或涂層形成的膜的厚度的裝置。

涂裝的目的是保護基材、改善其外觀，但如果涂膜厚度不合適，可能會導(dǎo)致光澤變差、變色、開裂等，產(chǎn)品可能無法發(fā)揮其應(yīng)有的作用。是。因此，使用涂層測厚儀測量涂層的厚度并確認(rèn)涂層是否以適當(dāng)?shù)暮穸韧扛彩欠浅Ｖ匾摹?/p>

膜厚計的范圍包括電磁膜厚計、渦流膜厚計、超聲波膜厚計等接觸式膜厚計，以及反射分光式膜厚計、熒光X射線膠片等非接觸式膜厚計。各種類型的膜厚計已被設(shè)計并投入實際使用。日本達科他銷售手持式電磁膜厚計和渦流膜厚計，可以方便地在現(xiàn)場使用。

本頁介紹電磁式膜厚計和渦流式膜厚計的特點及其測量原理。

特征

電磁膜厚計和渦流膜厚計測量金屬涂層的厚度。電磁式膜厚計用于測量鐵等磁性金屬鍍層的厚度，渦流式膜厚計用于測量鋁、銅等有色(導(dǎo)電非磁性)金屬的厚度。

使用非常方便，只需將探頭輕觸測量位置即可立即測量膜厚。與超聲波檢測不同，不需要使用耦合劑。由于其尺寸方便，適合戶外和高處檢查。

另一方面，如果基材是木材、混凝土、塑料、玻璃等，則無法測量涂層的厚度。由于它測量的是探針（傳感器）與基材之間的距離，因此它受到涂層表面狀況（粗糙度）和探針粘附程度的影響。另外，由于是接觸式，因此不適合工廠的自動測量。

測量方法	電磁膜厚計（電磁感應(yīng)式）	渦流膜厚計（渦流式）
基材（基材）	鐵、鋼、鐵素體不銹鋼	鋁、銅、黃銅
基材（基材）	磁性金屬	導(dǎo)電非磁性金屬
電影	塑料、樹脂（漆）、橡膠（襯）瓷漆、氧化膜、鋅、鉻、錫、銅、鋁	塑料、樹脂（漆）、橡膠（襯里）抗蝕劑、搪瓷、耐酸鋁（陽極氧化膜）
電影	無磁涂層	絕緣膜
測量方法	接觸	接觸
多層膜測量（各層膜厚測量）	×	×
自動測量	不適合	不適合
其他的	無法測量木材、玻璃或混凝土上的涂層厚度。由于是接觸式，不適合自動測量。手持式可進行現(xiàn)場測量。

測量原理

電磁膜厚計（電磁感應(yīng)式）

電磁式膜厚計（電磁感應(yīng)式）是利用探頭內(nèi)的初級線圈產(chǎn)生的磁通量根據(jù)膜的厚度而改變次級線圈中感應(yīng)的電流的原理來測量膜厚的。
當(dāng)次級線圈接收初級線圈產(chǎn)生的磁通量時，如果磁通量范圍內(nèi)有磁性材料（鐵等磁性材料），磁通量分布就會發(fā)生變化，從而在次級線圈中產(chǎn)生感應(yīng)電流。會改變。磁通量分布的變化也會根據(jù)初級線圈和磁性材料之間的距離而變化，因此通過測量感應(yīng)電流的變化，可以測量到磁性材料的距離（膜厚）。

在電磁感應(yīng)型中，基材必須是鐵等磁性材料，涂層必須是樹脂或鋁等非磁性材料。

在初級線圈中產(chǎn)生恒定的磁通量。
磁通量的狀態(tài)根據(jù)距磁性基板的距離（膜厚）而變化，因此磁通量的變化由次級線圈檢測并顯示為膜厚。

測量原理

渦流膜厚計（渦流式）

渦流膜厚計（渦流式）利用初級線圈的磁通量在導(dǎo)體內(nèi)部產(chǎn)生的渦電流量根據(jù)導(dǎo)體與初級線圈之間的距離而變化的事實來測量膜厚。
當(dāng)初級線圈中產(chǎn)生的磁通量到達導(dǎo)體時，導(dǎo)體內(nèi)部會產(chǎn)生渦流（感應(yīng)電流）。當(dāng)由該渦流產(chǎn)生的磁通通過次級線圈時，在次級線圈中產(chǎn)生電動勢。導(dǎo)體中產(chǎn)生的渦電流的量根據(jù)初級線圈與導(dǎo)體之間的距離而變化，并且由于渦流產(chǎn)生的磁通量而在次級線圈中產(chǎn)生的電動勢也根據(jù)與導(dǎo)體的距離而變化。去做。因此，可以通過測量電動勢來測量到導(dǎo)體的距離（膜厚）。

在初級線圈中產(chǎn)生恒定的磁通量。當(dāng)磁通量到達基板時，會產(chǎn)生渦流（感應(yīng)電流）。
由于渦流的量根據(jù)初級線圈和基板之間的距離（膜厚）而變化，因此在次級線圈中檢測到渦流產(chǎn)生的磁通量并顯示為膜厚。

測量原理